1.     功能介绍

Ø  能够根据用户提供的辐照前后的器件特性变化，电流随电压关系曲线，自动完成总计量模型提取。

Ø  能够支持MOS器件的多种Spice模型的抗辐照模型提取，用户的商用MOS模型可以是基于Bsim3，Bsim4，PSP，BsimSOI，HISIM等多种格式的MOS紧凑模型。

Ø  能够提供从测试芯片设计，器件测量，模型提取到模型验证的完整器件建模解决方案，以及从单管提取到完整的库建模的解决方案。抗

Ø  能够对于建立的模型可以进行模型在不同器件物理尺寸条件下合理性验证，并且能够针对典型的电路进行辐照特性分析。

2.     系统特点

            该项目根据用户的实际需求，提供软件+服务的方面，量身为用户打造解决方案。